同位素檢測(cè)（如GC-IRMS, LC-IRMS）出現(xiàn)“信號(hào)強(qiáng)度低”報(bào)錯(cuò)，樣品進(jìn)樣系統(tǒng)往往是首要排查對(duì)象，因?yàn)樗苯迂?fù)責(zé)將樣品有效、穩(wěn)定地送入離子源進(jìn)行電離和檢測(cè)。信號(hào)強(qiáng)度低通常意味著到達(dá)檢測(cè)器的目標(biāo)離子數(shù)量不足。以下是需要重點(diǎn)檢查的進(jìn)樣系統(tǒng)4個(gè)關(guān)鍵部位：

1. 進(jìn)樣針/自動(dòng)進(jìn)樣器：

* 堵塞/部分堵塞： 這是最常見(jiàn)的原因。樣品中的顆粒物、高沸點(diǎn)殘留物或鹽分結(jié)晶可能導(dǎo)致針頭或針內(nèi)通道部分或完全堵塞。表現(xiàn)為進(jìn)樣量不足、進(jìn)樣峰形異常（如拖尾、分叉）或完全沒(méi)有峰。

* 彎曲/損壞： 針尖彎曲會(huì)改變進(jìn)樣位置（如GC中未準(zhǔn)確插入襯管中心），影響樣品氣化效率；針體損壞可能導(dǎo)致泄漏或進(jìn)樣量不準(zhǔn)。

* 污染/殘留： 針內(nèi)外壁吸附了前次樣品或污染物，干擾當(dāng)前樣品傳輸或引入背景噪聲。

* 檢查與處理： 肉眼檢查針尖是否彎曲、堵塞；用放大鏡或顯微鏡觀察。使用合適的溶劑（如甲醇、丙酮、去離子水）進(jìn)行強(qiáng)力沖洗程序。對(duì)于頑固堵塞，可用極細(xì)的通針絲（慎用，易損壞針內(nèi)壁）或更換新針。確保自動(dòng)進(jìn)樣器的Z軸高度和位置校準(zhǔn)正確。

2. 樣品傳輸管線：

* 污染/吸附： 從進(jìn)樣口到離子源（或接口設(shè)備，如GC Combustion爐）之間的毛細(xì)管線或連接管，長(zhǎng)期使用會(huì)積累樣品殘留物（尤其是含脂質(zhì)、蛋白質(zhì)或復(fù)雜基質(zhì)的樣品），吸附目標(biāo)化合物或造成峰展寬、拖尾，降低有效離子流強(qiáng)度。

* 泄漏： 管線連接處（Swagelok接頭、Vespel/石墨 Ferrules）松動(dòng)、密封圈老化或管線本身破損，會(huì)導(dǎo)致載氣泄漏或空氣滲入。這不僅稀釋樣品，更嚴(yán)重的是引入大量氮?dú)?、氧氣等背景氣體，嚴(yán)重壓制目標(biāo)同位素離子的信號(hào)（特別是CO2+、N2+等），是信號(hào)驟降的常見(jiàn)原因。

* 檢查與處理： 對(duì)所有連接點(diǎn)進(jìn)行泄漏檢查（使用檢漏液或儀器自帶的泄漏檢查程序）。檢查管線是否有明顯污染變色。定期更換或切割掉入口端一小段毛細(xì)管。徹底清洗或更換污染嚴(yán)重的管線及接頭密封件。確保所有接頭擰緊至適當(dāng)扭矩（避免過(guò)緊損壞）。

3. 進(jìn)樣口/接口（如GC的進(jìn)樣口、GC-Combustion接口）：

* 襯管污染/失效： GC進(jìn)樣口的襯管是樣品氣化的關(guān)鍵場(chǎng)所。積碳、硅烷化層失效、碎屑或玻璃毛移位/堵塞都會(huì)導(dǎo)致樣品氣化不完全、歧視效應(yīng)（某些組分未完全進(jìn)入色譜柱）或吸附，顯著降低進(jìn)入后續(xù)系統(tǒng)的有效樣品量。

* 隔墊漏氣/老化： 進(jìn)樣隔墊多次進(jìn)樣后會(huì)出現(xiàn)針孔或彈性下降，導(dǎo)致微量泄漏，引入空氣或造成載氣流量不穩(wěn)，影響信號(hào)穩(wěn)定性。

* 接口溫度不足： 對(duì)于GC-IRMS的燃燒/高溫轉(zhuǎn)化接口，溫度必須足夠高以確保樣品完全轉(zhuǎn)化為目標(biāo)氣體（如有機(jī)物→CO2, N2）。溫度偏低會(huì)導(dǎo)致轉(zhuǎn)化不完全，目標(biāo)氣體產(chǎn)率低，信號(hào)強(qiáng)度自然不足。

* 檢查與處理： 檢查并更換污染、破損或使用次數(shù)過(guò)多的襯管和隔墊。確保進(jìn)樣口和接口的溫度設(shè)置正確（參考方法要求），并實(shí)際測(cè)量溫度（若可能）。清潔或更換襯管中的玻璃毛（若使用）。

4. 離子源：

* 污染： 這是進(jìn)樣系統(tǒng)下游但緊密相關(guān)的關(guān)鍵部件。未能完全氣化或轉(zhuǎn)化的樣品殘留物、柱流失物、泵油蒸汽等會(huì)沉積在離子源的燈絲、推斥極、聚焦極等金屬表面。污染層會(huì)抑制電子發(fā)射（燈絲污染）、干擾電場(chǎng)導(dǎo)致離子聚焦不良、增加背景噪聲，最終表現(xiàn)為所有峰信號(hào)普遍降低。

* 燈絲老化/損壞： 燈絲是發(fā)射電子電離樣品的關(guān)鍵。長(zhǎng)時(shí)間使用后老化或意外燒斷（常因突然暴露大氣），會(huì)直接導(dǎo)致電離效率急劇下降甚至無(wú)信號(hào)。

* 檢查與處理： 離子源污染是信號(hào)持續(xù)緩慢下降的常見(jiàn)原因。 需要根據(jù)儀器手冊(cè)和實(shí)驗(yàn)室規(guī)程進(jìn)行離子源清洗（通常包括拆卸、超聲清洗、烘干等步驟，需專業(yè)培訓(xùn)）。檢查燈絲狀態(tài)（儀器診斷程序或萬(wàn)用表測(cè)量電阻）。必要時(shí)更換燈絲。操作離子源前務(wù)必確認(rèn)儀器已完全泄真空并斷電！

總結(jié)排查步驟建議：

1. 最快速： 檢查進(jìn)樣針是否堵塞彎曲，運(yùn)行強(qiáng)力沖洗程序。檢查隔墊、襯管狀態(tài)，及時(shí)更換。進(jìn)行系統(tǒng)泄漏檢查。

2. 如未解決： 檢查并清洗或更換傳輸管線（尤其入口端）。確認(rèn)進(jìn)樣口/接口溫度設(shè)置正確且實(shí)際溫度達(dá)標(biāo)。

3. 持續(xù)低信號(hào)： 高度懷疑離子源污染或燈絲老化。備份數(shù)據(jù)后，安排離子源維護(hù)（清洗或更換燈絲）。

4. 始終考慮： 樣品本身濃度是否足夠？?jī)x器調(diào)諧狀態(tài)是否正常？色譜柱是否流失嚴(yán)重？檢測(cè)器設(shè)置（如EM電壓）是否正確？但“信號(hào)強(qiáng)度低”報(bào)錯(cuò)時(shí)，優(yōu)先徹底排查上述進(jìn)樣系統(tǒng)四個(gè)部位，往往能高效解決問(wèn)題。 良好的日常維護(hù)（如定期更換襯管、隔墊，及時(shí)清洗針和源）是預(yù)防此類問(wèn)題的關(guān)鍵。