

1.衍射峰形畸變與展寬:
*原理:X射線衍射法通過測量晶面間距的變化(d值)來計算應(yīng)變,進而推導(dǎo)應(yīng)力。理想光滑表面能產(chǎn)生尖銳、對稱的衍射峰。
*影響:粗糙表面由無數(shù)微小凸起和凹陷組成,導(dǎo)致:
*有效衍射體積變化:不同高度處的晶粒參與衍射,其晶面間距可能因局部應(yīng)力狀態(tài)或幾何位置不同而存在微小差異。
*入射/衍射角度的局部變化:微觀起伏導(dǎo)致X射線入射角和衍射角在局部區(qū)域偏離名義值。
*結(jié)果:這些效應(yīng)疊加,導(dǎo)致衍射峰顯著展寬、不對稱甚至分裂。峰形的畸變直接影響峰位(2θ角)的精確測定。峰位是計算應(yīng)力的核心輸入值,其微小誤差會被放大,導(dǎo)致應(yīng)力計算結(jié)果出現(xiàn)顯著偏差甚至錯誤。峰展寬本身也可能被誤判為微觀應(yīng)變或晶粒細化。
2.應(yīng)力平均化效應(yīng):
*原理:殘余應(yīng)力在材料內(nèi)部通常不是均勻分布的,存在梯度。
*影響:粗糙表面使得X射線束照射到的區(qū)域包含不同深度(從凸峰到谷底)和不同局部應(yīng)力狀態(tài)的區(qū)域。衍射信號是所有照射體積內(nèi)晶粒應(yīng)力的加權(quán)平均。
*結(jié)果:測得的應(yīng)力值不再是表面某一點的“真實”應(yīng)力,而是一個較大體積內(nèi)(由粗糙度和穿透深度決定)應(yīng)力的平均值。這掩蓋了真實的應(yīng)力梯度,特別是當表面存在顯著的應(yīng)力梯度(如加工硬化層、噴丸層)時,粗糙度會嚴重模糊這些梯度的信息。
3.X射線穿透深度與有效信息深度不確定性:
*原理:X射線具有一定的穿透能力,其穿透深度與材料、波長和入射角有關(guān)。通常認為測量的是表面以下一定深度(幾微米到幾十微米)的平均應(yīng)力。
*影響:在粗糙表面上,X射線束照射區(qū)域內(nèi)的實際材料厚度變化很大(凸起處薄,凹陷處厚)。凸起處可能完全穿透,而凹陷處可能穿透不足。
*結(jié)果:有效信息深度變得模糊且不均勻。無法準確界定測量的是哪個深度的應(yīng)力,導(dǎo)致應(yīng)力深度分布分析的可靠性大大降低。
4.對Sin2ψ法的影響尤為顯著:
*原理:X射線衍射法最常用的Sin2ψ法需要測量多個ψ角(樣品傾斜角)下的衍射峰位。
*影響:表面粗糙度會導(dǎo)致在不同ψ角下,X射線束照射到的實際表面幾何形態(tài)發(fā)生復(fù)雜變化,影響照射體積和角度關(guān)系的一致性。
*結(jié)果:Sin2ψ法依賴的線性關(guān)系被破壞,導(dǎo)致ψ角掃描數(shù)據(jù)點嚴重離散,線性擬合困難或誤差極大,甚至得出完全錯誤的應(yīng)力張量分量(如出現(xiàn)假的剪切應(yīng)力)。
影響程度有多大?
*顯著且非線性:影響程度絕非輕微。即使Ra值(算術(shù)平均粗糙度)在1-2微米級別,也可能引起幾十MPa甚至上百MPa的應(yīng)力測量誤差。隨著粗糙度增加,誤差通常呈非線性增長。
*遠超儀器精度:現(xiàn)代X射線應(yīng)力儀的儀器精度可達±10-20MPa。然而,由表面粗糙度引入的系統(tǒng)誤差很容易達到±50MPa甚至更高,完全掩蓋了儀器的固有精度。
*可能導(dǎo)致結(jié)果完全失效:在粗糙度很大(如Ra>5-10μm,具體閾值因材料、檢測方法、所需精度而異)的情況下,衍射峰嚴重畸變,測量可能根本無法進行或結(jié)果完全不可信。
結(jié)論與建議:
表面粗糙度對X射線衍射法殘余應(yīng)力檢測的影響是系統(tǒng)性、顯著且通常不可忽略的。它直接威脅到測量結(jié)果的準確性、可靠性和可重復(fù)性。在檢測前:
1.必須評估樣品表面粗糙度:使用表面粗糙度儀測量關(guān)鍵區(qū)域的Ra值(或更全面的參數(shù)如Rz,Rq)。
2.嚴格進行表面制備:對于X射線衍射法,通常要求Ra<1μm,理想情況應(yīng)更低(如Ra<0.5μm)。對于噴丸、磨削等工藝表面,需謹慎處理。
3.選擇合適的制備方法:根據(jù)材料選用電解拋光、化學(xué)拋光、精細研磨(如使用高目數(shù)砂紙或金剛石膏逐級拋光)等方法。避免引入新的加工應(yīng)力或改變原始應(yīng)力狀態(tài)。
4.考慮替代方法(如適用):對于極其粗糙或無法拋光的表面(如鑄件原始表面、某些焊接狀態(tài)),可考慮受影響較小的中子衍射法(穿透深度深,對表面要求低)或臨界性要求不高的場合使用盲孔法(但盲孔法本身也需良好表面處理以保證應(yīng)變片粘貼和打孔精度)。
5.報告粗糙度信息:在檢測報告中應(yīng)注明樣品檢測區(qū)域的表面粗糙度狀況和制備方法,這對結(jié)果解讀至關(guān)重要。
簡言之,忽視表面粗糙度控制,殘余應(yīng)力檢測結(jié)果很可能失去科學(xué)和工程價值,甚至導(dǎo)致誤判。將其視為樣品制備的核心要求之一,是保障數(shù)據(jù)可靠性的關(guān)鍵前提。
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